半導体ウェハー&サポート部品 光選別ソリューション

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半導体ウェーハおよび関連部品の精密検査

UNITECHOは、半導体コネクタ向けのAIを活用した外観検査ソリューションを提供しています。すべてのピン、端子、リードフレームを検査し、完全に正常に機能することを確認します。当社のシステムは、部品に触れることなく迅速に検査を行い、ピンの曲がり、表面の凹凸、間隔の不備、メッキ不良、成形材の過剰など、重要な欠陥を検出します。.

高度な画像スティッチング技術、広視野角光学系、および独自のAIアルゴリズムを活用し、半導体の基礎層に対して正確かつ一貫性のある品質管理を実現します。 当社のシステムは生産プロセスに容易に組み込むことができ、リアルタイムで分析とフィードバックを行うことで、寸法に問題のある部品が最終製品に影響を与えるのを防ぎます。これにより、生産歩留まりが向上し、廃棄物が削減され、プロセス全体の安定性が向上するため、メーカーが「欠陥ゼロ」という目標を達成するのに役立ちます。.

製品別ソリューション

光学選別機

この光学選別機は、半導体製造において欠かせない装置です。ウェハーやリードフレーム、PCB基板などの部品に対し、高精度な検査と選別を行います。 最先端技術を用いて複数の画像を合成し、複雑な形状や広範囲にわたる検査を行います。部品に接触することなく、ピンの曲がり、パターンのずれ、表面の凹凸などの微細な欠陥やその他の小さな不具合を検出します。これにより、生産を円滑に進め、半導体製造における高い基準を満たすことができます。.

関連紹介

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光学選別機

測定機

光学測定機

計数機

光学式計数機

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この測定システムは、ウェーハやリードフレーム、PCB基板などの部品を検査するために不可欠です。高度な画像スティッチング技術と広角視野を活用し、複数の画像を合成することで、複雑な形状や広範囲の測定が可能です。部品に触れることなく、ピンの位置合わせ、パターンの一致、表面の平坦度といった重要な要素を分析します。 これにより、部品が厳しい半導体規格を満たすことが保証され、ウェーハの加工プロセスを損なうことなく維持されます。.

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ユナイトエコー・テクノロジー

UNITECHO株式会社は2013年に設立され、中国蘇州に本社を置く。マシンビジョンアル技術を核心とし、マシンビジョン、オートメーション、人工知能、その他の技術と産業アプリケーションを深く融合させることに力を注いでいる。研究開発、生産、販売、サービスに重点を置く新しいハイテク企業である。.

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