エレクトロニクス産業向け光選別ソリューション

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エレクトロニクス産業向け光選別ソリューション

エレクトロニクス産業向け光選別ソリューション

UNITECHOは、3Cエレクトロニクス産業市場向けに、人工知能と精密パッケージングを駆使した最先端の外観検査ソリューションを提供しています。UNITECHOの高速光学システムは、3C向け小型プラスチック部品から3C向け金属ハードウェアの複雑な構造モジュールに至るまで、様々な部品の品質を保証します。Glass Disk ScreeningやSix-View Inspectionのような独自技術で業界をリードする当社は、ナノレベルの表面スクラッチ感度を検出し、ミクロンレベルの寸法公差制御やメッキ表面の完全性を提供することができます。.

この技術は、電子機器の小型化という大きな課題に応えるものです。D835/D850のような高精度ビジョン計数ツールとインスタント・ワンキー測定器を使用し、3C極小部品に最高の能力を提供します。これにより、極小のネジや電子ビットであっても、量と種類の完全な正しさが保証されます。機械選別から最終外観に基づく計数梱包まで、UNITECHOはメーカーに製造スピードを上げ、手作業によるミスをなくし、世界のバイヤーエレクトロニクス市場が求める高い外観と作業レベルを維持する力を提供します。.

電子金属ハードウェア光選別ソリューション

当社では、専用のシックスビュー検査システムとガラスディスク検査システムを利用して、ねじの損傷、メッキの剥離、ファスナーやシールド缶の寸法偏差を検出しています。これにより、すべてのネジとナットが、民生用電子機器の組み立てに要求される厳格な美的・機能的基準を満たしていることが保証されます。.

電子プラスチック部品光学選別ソリューション

当社の非接触ガラスディスクスクリーニングシステムは、デリケートなキー、レンズ、Oリングの傷、黒点、フラッシュ、ショートショットなどの重要な外観不良を識別します。透明なガラス製ターンテーブルを使用することで、光沢のあるプラスチック部品の表面を傷つけることなく、360°欠陥のない品質を保証します。.

電子構造部品光選別ソリューション

Instant One-Key Measuring技術を活用し、スマートフォンのミッドフレーム、SIMトレイ、コネクタの平面度、穴位置、プロファイル輪郭などの複雑な幾何公差を検証します。これにより、スリムで高密度の電子機器に不可欠な正確なフィットと構造的完全性が保証されます。.

エレクトロニクス微小精密部品光学選別ソリューション

誤差が生じやすい計量方法に代わって、当社の高精度ビジョンカウンティングマシン（例：D835/D850シリーズ）は、マイクロネジ、MLCC、微小バネなどの100%の正確な数量チェックを提供します。このシステムは自動的に異物を排除し、キッティングや最終アクセサリーのパッケージングのための正確なカウントを保証します。.